昊衡科技致力于為光通信用戶提供更先進(jìn)、更穩(wěn)定、更可靠的測(cè)試解決方案，推出了一系列光學(xué)測(cè)量測(cè)試系統(tǒng)。其中高分辨光學(xué)鏈路診斷系統(tǒng)（OCI）與光學(xué)矢量分析系統(tǒng)（OCI-V）備受大家關(guān)注，為了便于大家選擇適合自己的產(chǎn)品，昊衡科技進(jìn)行深度剖析，探究它們究竟有何不同之處。
OCI與OCI-V的不同之處主要有3方面，分別是測(cè)量原理、測(cè)量參數(shù)以及產(chǎn)品應(yīng)用。
測(cè)量原理
高分辨光學(xué)鏈路診斷系統(tǒng)（OCI）采用的是OFDR光頻域反射技術(shù)，檢測(cè)待測(cè)光纖中背向瑞利散射信號(hào)，實(shí)現(xiàn)對(duì)光纖鏈路的全方位診斷；
光學(xué)矢量分析系統(tǒng)（OCI-V）采用線性掃頻光源對(duì)帶測(cè)器件進(jìn)行掃描，并結(jié)合相干檢測(cè)技術(shù)獲取待測(cè)器件的瓊斯矩陣，進(jìn)而獲得各光學(xué)參數(shù)。
測(cè)量參數(shù)
高分辨光學(xué)鏈路診斷系統(tǒng)（OCI）測(cè)量分布式插損、回?fù)p、光譜、群延時(shí)等光學(xué)參數(shù)；
光學(xué)矢量分析系統(tǒng)（OCI-V）測(cè)量PDL（偏振相關(guān)損耗）、PMD（偏振模色散）、IL（插損）、GD（群延時(shí)）、CD（色散）等光學(xué)參數(shù)。
另外，在系統(tǒng)設(shè)備顯示上也有所差異，OCI顯示橫坐標(biāo)為長(zhǎng)度，縱坐標(biāo)為反射；OCI-V顯示橫坐標(biāo)為波長(zhǎng)，縱坐標(biāo)為各待測(cè)參數(shù)，其含義是測(cè)量不同波長(zhǎng)下的各參數(shù)值。
產(chǎn)品應(yīng)用
高分辨光學(xué)鏈路診斷系統(tǒng)（OCI）主要應(yīng)用在光器件、光模塊測(cè)量，光纖長(zhǎng)度精確測(cè)量，硅光芯片測(cè)量，光譜、群延時(shí)測(cè)量等。
OCI測(cè)量光纖鏈路，測(cè)得各位置處的分布式損耗，空間分辨率高達(dá)10μm。
光學(xué)矢量分析系統(tǒng)（OCI-V）主要針對(duì)于無源器件（平面波導(dǎo)器件、硅光器件、波長(zhǎng)可調(diào)器件、放大器等）測(cè)量。
OCI-V測(cè)量HCN氣體吸收室，測(cè)得不同波長(zhǎng)下的插損，波長(zhǎng)精度可達(dá)1.6pm。
相同點(diǎn)是OCI與OCI-V均產(chǎn)自昊衡科技，屬于國產(chǎn)自研產(chǎn)品，設(shè)備自校準(zhǔn)，無需人為干預(yù)，穩(wěn)定性非常好，能精準(zhǔn)測(cè)量各待測(cè)參數(shù)且極大節(jié)省測(cè)試時(shí)間。
現(xiàn)在，大家都更加了解高分辨光學(xué)鏈路診斷系統(tǒng)（OCI）與光學(xué)矢量分析系統(tǒng)（OCI-V）吧，如有任何問題，歡迎大家咨詢！
