產(chǎn)品描述
OCI-V是一款快速檢測光學(xué)器件損耗、色散和偏振等相關(guān)參數(shù)的光矢量分析系統(tǒng)。其原理是采用線性掃頻光源對待測器件進(jìn)行掃描，并結(jié)合相干檢測技術(shù)獲取待測器件的瓊斯矩陣，進(jìn)而獲得器件插損、色散、偏振相關(guān)損耗、偏振模色散等光學(xué)參數(shù)。該系統(tǒng)采用獨(dú)特光路設(shè)計以及先進(jìn)算法，實(shí)現(xiàn)智能校準(zhǔn)，操作簡單，極大節(jié)省測試時間。
產(chǎn)品特點(diǎn)
- 測量長度：200m
- 自校準(zhǔn)
- 波段：C+L、O波段（可選）
- 1秒內(nèi)測量多種光學(xué)參數(shù)
產(chǎn)品應(yīng)用
- 平面波導(dǎo)器件
- 硅光器件
- 光纖器件
- 波長可調(diào)器件、放大器、濾波器
測量參數(shù)
- 偏振相關(guān)損耗PDL
- 偏振模色散PMD
- 插損IL
- 群時延GD
- 色散CD
- 瓊斯矩陣參數(shù)
- 光學(xué)相位
產(chǎn)品參數(shù)
| 主要參數(shù) | ||
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標(biāo)準(zhǔn)模式 高動態(tài)范圍模式 |
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| 測量長度1 | 200 | m |
| 波段 | C+L 波段：1525~1625；O 波段：1265~1340 | nm |
| 波長分辨率 | 1.6 | pm |
| 波長精度 | ±1.0 | pm |
| 損耗（IL） |
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| 動態(tài)范圍 |
60 80 |
dB |
| 插損精度 |
±0.1 ±0.05 |
dB |
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分辨率 |
±0.05 ±0.002 | dB |
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回?fù)p精度 |
±0.1 |
dB |
| 群時延 （GD) |
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| 量程 | 6 | ns |
| 精度 | ±0.2 ±0.1 | ps |
| 損耗范圍 | 45 60 | dB |
| 色散（CD） |
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| 精度 | ±10 ±5 | ps/nm |
| 偏振相關(guān)損耗（PDL) |
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| 動態(tài)范圍 | 40 50 | dB |
| 精度 |
±0.05 ±0.03 |
dB |
| 偏振模色散（PMD） |
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| 量程 | 6 | ns |
| 精度 | ±0.1 | ps |
| 損耗范圍 | 40 50 | dB |
| 硬件 |
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| 主機(jī)功率 | 60 | W |
| 通訊接口 | USB | - |
| 光纖接口 | FC/APC | - |
| 尺寸 | D 390 * W 345 * H 165 | mm |
| 重量 | 7.5 | kg |
| 儲存溫度 | 0 ~ 50 | ℃ |
| 儲存與工作溫度 | 10 ~ 40 | ℃ |
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定制功能2 |
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測量長度 |
100 | m |
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空間分辨率 |
10μm@50m 20μm@100m | μm |
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回?fù)p測量范圍 |
-125~0 |
dB |
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插損動態(tài)范圍 |
18 |
dB |
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插、回?fù)p分辨率 |
0.05 |
dB |
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插、回?fù)p精度 |
±0.1 |
dB |
備注：
- 透射模式測量長度200m，可拓展反射模式，測量長度為100m；
- 光矢量分析儀（OCI-V）可拓展OFDR功能，測量光纖鏈路。
資料下載
OCI-V 光矢量分析系統(tǒng) 產(chǎn)品單頁.pdf
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