產(chǎn)品描述
SSA是一款測量光學(xué)器件透射光譜響應(yīng)的分析系統(tǒng)。其原理采用線性掃頻光源對待測器件進行快速掃描,并結(jié)合相干檢測技術(shù)獲取待測器件的光譜響應(yīng),進而得到待測器件在不同波長下的損耗分布。
該系統(tǒng)還可選配GD、CD、PDL、PMD等光學(xué)參數(shù)測量,系統(tǒng)內(nèi)置窄線寬掃頻光源,可應(yīng)用于系統(tǒng)相干光學(xué)信號測量及分析系統(tǒng)的二次開發(fā)。
產(chǎn)品特點
- 多功能
- 可擴展掃頻光源
- 可拓展GD、CD、PDL、PMD等光學(xué)參數(shù)測量
- C+L、O波段(可選)
產(chǎn)品應(yīng)用
- 平面波導(dǎo)器件
- 硅光器件
- 光纖器件
- 波長可調(diào)器件、放大器、濾波器
- 光學(xué)測量分析二次開發(fā)
產(chǎn)品參數(shù)
主要參數(shù) | ||
損耗(IL) |
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測量長度 | 200 | m |
波段1 | 1525 ~ 1565;1290 ~ 1330 | nm |
波長分辨率 | 1.6 | pm |
波長精度 | ±1.0 | pm |
動態(tài)范圍2 | 60 | dB |
插損精度 | ±0.1 | dB |
分辨率 | ±0.05 | dB |
掃頻光源 |
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功率3 | 1 | mW |
波長1 | 1525 ~ 1565;1290 ~ 1330 | nm |
波長精度 | 5 | pm |
掃描速度 | 10 ~ 100 | nm/s |
邊模抑制比 | 60 | dBc |
消光比 | 15 | dB |
硬件 |
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主機功率 | 60 | W |
通訊接口 | USB | - |
光纖接口 | FC/APC | - |
尺寸 | D 390 * W345 * H165 | mm |
重量 | 7.5 | kg |
儲藏溫度 | 0 ~ 50 | ℃ |
工作溫度 | 10 ~ 40 | ℃ |
工作濕度 | 10 ~ 90 | %RH |
備注:
- 可拓展GD、CD、PDL、PMD等光學(xué)參數(shù)測量;
- 可升級掃描范圍;
- 可升級高功率版本(2mW/5mW)。
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