一、展會介紹
第二十五屆中國國際光電博覽會（CIOE中國光博會）將于2024年9月11-13日在深圳國際會展中心舉辦。作為覆蓋光電全產(chǎn)業(yè)鏈的綜合型展會，CIOE中國光博會匯聚了來自全球超30個國家和地區(qū)的超3700家的優(yōu)質(zhì)參展企業(yè)，同期七展覆蓋信息通信、精密光學、攝像頭技術(shù)及應(yīng)用、激光及智能制造、紅外、紫外、智能傳感、新型顯示等板塊， 是尋找研發(fā)和生產(chǎn)制造中所需要的材料、器件、設(shè)備及解決方案的一站式高效采購平臺，也是精準商貿(mào)需求配對，快速拓展商業(yè)社交圈，把握行業(yè)發(fā)展前沿資訊和動態(tài)的商貿(mào)平臺。
二、展品介紹
OCI 高分辨光學鏈路診斷儀
OCI檢測高速光模塊內(nèi)部光鏈路
OCI檢測高速光模塊內(nèi)部OCI基于光頻域反射（OFDR）技術(shù)，單次測量可實現(xiàn)從器件到鏈路的全范圍診斷，可輕松查找并判別光纖鏈路中的宏彎、連接點和斷點，并精確測量回損、插損、光譜、延遲等參數(shù)，其事件點定位精度高達0.1mm。OCI不僅可用于光學鏈路診斷，還可拓展分布式光纖傳感功能，實現(xiàn)應(yīng)變和溫度的高分辨測量。
OCI-V 光矢量分析儀
OCI-V測量波分復用器IL
OCI-V是一款快速檢測光學器件損耗、色散和偏振等參數(shù)的光矢量分析系統(tǒng)。其原理是采用線性掃頻光源對待測器件進行掃描，并結(jié)合相干檢測技術(shù)獲取待測器件的瓊斯矩陣，進而獲得器件插損、偏振模色散、偏振相關(guān)損耗、群延時等光學參數(shù)。
OLI 低成本光學鏈路診斷儀
OLI檢測光模塊裂紋
OLI基于光學相干檢測技術(shù)，利用白光的低相干性可實現(xiàn)光纖鏈路或光學器件的微損傷檢測，可輕松查找并精準定位器件內(nèi)部斷點、微損傷點以及鏈路連接點。設(shè)備采樣分辨率最高可達1μm，同時最低可探測到-100dB光學弱信號， 廣泛用于光纖或光器件損傷檢測以及產(chǎn)品批量出貨合格判定。
OSI 分布式光學傳感系統(tǒng)
機翼應(yīng)變測試及變形實時重構(gòu)
OSI系列分布式光纖傳感系統(tǒng)基于光頻域反射技術(shù)（OFDR），用于分布式應(yīng)變、溫度測量，傳感空間分辨率高達mm量級，測量重復精度高達±0.1℃和±1με。該系統(tǒng)采用常規(guī)單模光纖作傳感器，兼容高密度弱反射光纖光柵陣列，在一根光纖上可同時測量成千上萬傳感點，廣泛應(yīng)用于短距離、高分辨、高精度應(yīng)變、溫度測量領(lǐng)域。系統(tǒng)具備形狀傳感和三維應(yīng)變、溫度場重構(gòu)功能。
三、時間地點
時間：9.11-9.13
大會地點：深圳國際會展中心
展位：10B29
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