隨著高速光通信發(fā)展，光器件種類多、迭代快，對測量儀要求更高。而在新興平面光波導和硅光芯片領域，其對儀表測量的精確性、穩(wěn)定性和操作便利性等各方面提出了前所未有的挑戰(zhàn)。昊衡科技實現(xiàn)了創(chuàng)新突破，發(fā)布了一款重磅產(chǎn)品——OCI-V光學矢量分析系統(tǒng)。
圖1 OCI-V光學矢量分析系統(tǒng)
OCI-V光學矢量分析系統(tǒng)能夠同時測量光學網(wǎng)絡損耗、偏振、色散等信息，分析光器件在寬譜、精細波長下的損耗和時延。其功能強大、操作方便，在光器件的研發(fā)、生產(chǎn)全過程中發(fā)揮重要作用，為改善設計、優(yōu)化結構和評估工藝等提供可靠依據(jù)。
圖2 PDL測量圖
OCI-V光學矢量分析系統(tǒng)，原理是采用線性掃頻光源對待測器件進行掃描，并結合相干檢測技術獲取待測器件的瓊斯矩陣，進而獲得器件插損(IL)、色散(CD)、偏振相關損耗(PDL)、偏振模色散(PMD)等多項光學參數(shù)。系統(tǒng)測量長度200m，可工作在C+L或O波段，具有測量范圍大、波長范圍寬、覆蓋器件廣、測量參數(shù)多等優(yōu)勢。
圖3 PMD測量圖
OCI-V系統(tǒng)采用獨特光路設計以及先進算法，進行智能校準，測量穩(wěn)定性好，操作簡單，可極大節(jié)省測試時間。昊衡科技專注于高端光學測量與傳感測試系統(tǒng)研發(fā)和解決方案開發(fā)，擁有OFDR核心技術，現(xiàn)已推出OCI通信系列、OSI傳感系列等多款OFDR商用產(chǎn)品。
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