昊衡科技推出的光纖微裂紋檢測儀，可用于光器件、光模塊、硅光芯片等器件的高精度長度測量，分辨率可達1微米，是國產裂紋檢測儀中的佼佼者。
圖1. 光纖微裂紋檢測儀
G-lens是自聚焦透鏡，一種折射率分布沿徑向漸變的柱狀光學透鏡。自聚焦透鏡的分布沿徑向逐漸減小，能夠使沿軸向傳輸?shù)墓猱a生連續(xù)折射，從而實現(xiàn)出射光線平滑且連續(xù)的匯聚到一點，下面是用OLI對G-lens長度的測量。
圖2. 單波長漸變折射率透鏡(G-lens)與插芯耦合示意圖
端面為斜8°的單波長漸變折射率透鏡（G-lens）與帶光纖的插芯耦合在一起，測量G-lens長度。
圖3. 實際示意圖
測試結果如圖4所示，第一個峰值為插芯與G-lens耦合面反射峰，第二個峰值為G-lens尾端反射峰，測試結果中dx=2.9mm為G-lens光程長度，是在折射率為n1=1.467（設備默認折射率）下測得，而G-lens的實際折射率為n2=1.6，則G-lens的實際長度為L=dx*n1/n2=2.66mm。
圖4. OLI測量結果
OLI光纖微裂紋檢測儀可以精確定位整個掃描范圍內的回波損耗，實現(xiàn)微米級光纖鏈路或光學器件的微損傷檢測。
