白光干涉儀又名光纖微裂紋檢測儀，能精確定位整個掃描范圍內(nèi)的回波損耗，實現(xiàn)微米級光纖鏈路或光學器件的微損傷檢測。
圖1.白光干涉儀
OLI原理如圖2所示，光源發(fā)出寬帶連續(xù)光被耦合器分為兩路，其中一束作為參考光，另一束作為探測信號光發(fā)射到待測光纖中。
圖2.白光干涉儀原理
探測光在光纖中向前傳播時會不斷產(chǎn)生回波信號，這些回波信號光與參考光經(jīng)過反射鏡后反射在耦合器發(fā)生拍頻干涉，并被光電探測器檢測。電機控制反射鏡Z移動進而改變參考光光程。
依照光干涉理論，要發(fā)生干涉現(xiàn)象，其光程差需在相干長度范圍內(nèi)，而寬譜光的相干長度非常短，當反射鏡移動時，從DUT返回的回波信號與反射鏡相等距離的反射信號發(fā)生拍頻。
圖3. OLI距離-反射率曲線
通過對最終的拍頻信號處理，DUT鏈路上的每點反射回來信號的強度可以映射為該點的反射率（即曲線縱坐標），DUT的實際干涉位置對應反射鏡Z移動的相應距離（即曲線橫坐標），從而形成了OLI距離-反射率曲線。
測量原理總結
1、光源：白光
2、兩路光：參考光、信號光
3、兩路光在光程相同的地方發(fā)生干涉
