光頻域反射技術(shù)（OFDR）可通過(guò)背向散射法測(cè)量整段光纖的回?fù)p曲線，利用回?fù)p和插損之間的關(guān)系可以得到整條曲線各個(gè)點(diǎn)的損耗。
圖. 背向散射法測(cè)量原理
如圖所示，假定DUT前后測(cè)量位置為1、2，其對(duì)應(yīng)的光功率分別為P1、P2，對(duì)應(yīng)的散射系數(shù)分別為α1、α2，則其對(duì)應(yīng)的反射光功率分別為：Pr1=P1×α1、Pr2=P2×α2。
| 測(cè)量位置 | 1 | 2 |
| 光功率 | P1 | P2 |
| 散射系數(shù) | α1 | α2 |
| 反射光功率 | Pr1=P1×α1 | Pr2=P2×α2 |
| 回?fù)p | RL1=-10lg(Pr1/P0) | RL2=-10lg(Pr2/P0) |
DUT的插損為：IL=-10lg (P2/P1)
1、2處的回?fù)p分別為：RL1=-10lg(Pr1/P0)、RL2=-10lg(Pr2/P0)。
當(dāng)1、2處光纖的散射系數(shù)相同時(shí)，可推導(dǎo)出IL=(RL1-RL2)/2。背向散射法是反射式測(cè)量，光信號(hào)往返兩次經(jīng)過(guò)DUT，因此需除以2。
